We study how several methods of structured illumination microscopy affect the metrological characteristics of an areal optical profiler.

最も変化したパラメータの1つがSdr（展開面積比）であると結論付けました。Sdrパラメータは付加やコーティングに関連する応用で重要なため、接着とコーティングが機能的性能に関わる付加製造表面（疎水姓表面など）では印刷角度が重要となります。

We modify a DMD-based optical profiler to enable lateral super-resolution of the image stack and explore how the quality of the 3D surface reconstruction can be improved.

We study how several methods of structured illumination microscopy affect the metrological characteristics of an areal optical profiler.

この研究では、非接触3D表面形状測定装置の共焦点顕微鏡（S neox、Sensofar、バルセロナ）を使用して、一層のセラミックパスの高さと堆積および二層造形されたセラミックパーツの高さを測定しました。