SPIE 23での最先端の科学論文の発表
Sensofarでは、自社のチームメンバーであるNarcís VilarとLena Zhukovaによって開発された、画期的な2つの科学論文の発表を誇りに思ってお知らせします。Narcís Vilarによる「成像共焦点顕微鏡を用いた付加製造のための表面トポグラフィの堅牢な測定」と、Lena Zhukovaによる「光学プロフィロメトリにおけるスキャン非線形性の計算的自己補正」というタイトルの論文は、待望のSPIE光学計測23にて発表されます。このイベントはミュンヘンで開催されます。
付加製造における表面トポグラフィの堅牢な測定における画像共焦点顕微鏡の使用
著者：Narcís Vilar、Roger Artigas、Sensofar-Tech, S.L.（スペイン）；Martí Duocastella、Univ. de Barcelona（スペイン）；Guillem Carles Santacana、Sensofar-Tech, S.L.（スペイン）
2023年6月27日 • 10:50 – 11:10 CEST | ICM Room 14c
Narcis Vilarの論文では、付加製造（AM）部品の表面テクスチャを測定するための最適化された光学システムが紹介されています。このシステムは広い視野と高い数値開口を備えており、表面の不規則性や反射率の変動による課題に対処しています。市販の対物レンズとカスタム設計のチューブレンズを組み合わせることで、AM部品の特性評価に適した倍率と効果的な数値開口を実現しています。このシステムは共焦点に類似したHiLo技術を使用し、金属AM部品の特性評価に成功しています。さらに、高ダイナミックレンジ（HDR）の手法を用いて、複数の低ダイナミックレンジ画像を組み合わせることで、反射率の変動に対応した単一のトポグラフィマップの再構築が可能となります。全体的に、この光学システムは広範な空間特徴のカバレッジとHDRの能力を持ち、さまざまな科学的および産業的な状況に適用可能な多目的な解決策を提供することが論文で確認されています。
光学プロフィロメトリにおけるスキャン非線形性の計算的自己補正
著者：Lena Zhukova、Roger Artigas、Guillem Carles Santacana、Sensofar-Tech, S.L.（スペイン）
2023年6月27日 • 12:30 – 12:50 CEST | ICM Room 14c
一方、Lena Zhukovaの論文は、スキャンに電動リニアステージを使用する光学プロフィロメータにおける非線形性を軽減する計算方法に焦点を当てています。単一のスキャンから抽出できる既知の変位によって分離された2つのトポグラフィを分析することで、アルゴリズムは位置決めシステムのエラーを予測し、除去することで測定精度を大幅に向上させます。このゼロコストの解決策は、電動リニアステージの非線形性の問題に対処するための実用的で効果的な方法を提供し、光学プロフィロメトリの適用範囲を産業界や研究分野全体に拡大します。
光学メトロロジーであり、光子学および関連技術の最先端の進歩を紹介することで知られるSPIE光学計測は、VilarとZhukovaが世界の科学コミュニティと共有するための理想的なプラットフォームを提供します。Sensofarは彼らの優れた貢献を評価し、彼らの研究が計測の分野に与える深い影響を期待しています。
