Fast topographic optical imaging using encoded search focal scan
We propose a method for increasing the speed of topographic imaging by orders of magnitude.
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の研究開発は、技術的な知識と計測システムの能力を発展させ続けています。このことは、当社の最新の研究成果を科学や光学計測のコミュニティに発表する継続的な取り組みが示すとおりです。その証拠は、現在入手可能な技術的な出版物の数に表れています。
以下のリンクから、さまざまな産業分野にわたる表面形状測定技術に関するトピックをご覧いただけます。
これらは、当社が専門知識を有する光学技術における具体的な3D表面測定ソリューションとアプリケーションの範囲の広さを表しています。
Sensofar R&D is constantly growing its know-how, technology and system capabilities.
These developments are illustrated by Sensofar’s continued commitment within and for the scientific optical metrology community, a proof of this is the number of technological papers that have been developed and published.
A collection of articles dealing with very interesting topics on surface metrology within the framework of several markets and industries.
Includes a wide range of specific 3D surface measurement solutions, or applications of optical technologies in which we are experts: