S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。
S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。
S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。
ソリューション
ワンショット 光学式3D形状測定システム
高度な製造・加工
考古学・古生物学研究
大衆消費電化製品(CE)
医療機器
モールディング
光学
時計
![swide_detail_2022 S wide system detail](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/bfi_thumb/swide_detail_2022-1-qpscduwi4iftl35dhttc5nf96l0con2ylmr6saibww.png)
ソリューション
ワンショット 光学式3D形状測定システム
高度な製造・加工
考古学・古生物学研究
大衆消費電化製品(CE)
医療機器
モールディング
光学
時計
高度な製造・加工
考古学・古生物学研究
大衆消費電化製品(CE)
医療機器
モールディング
光学
時計
![pcb_2d_falsecolor Topography PCB 2D False Color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_2d_falsecolor.png)
広い面積全体で、サブミクロンオーダーの高さ再現性
![pcb_3d_color Topo](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_3d_color.png)
![pcb_2d_falsecolor Topography PCB 2D False Color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_2d_falsecolor.png)
広い面積全体で、サブミクロンオーダーの高さ再現性
![pcb_3d_color Topo](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_3d_color.png)
![progressive_lenses_2d_falsecolor Topography Progressive lenses 2D false color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/progressive_lenses_2d_falsecolor.png)
Z軸スキャンせずにワンショットで最大40mmの高さ範囲を計測
![progressive_lenses_2d_falsecolor_profile Profile progressive lenses 2D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/progressive_lenses_2d_falsecolor_profile.png)
![progressive_lenses_2d_falsecolor_compo progressive_lenses_2d_falsecolor_compo](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/03/progressive_lenses_2d_falsecolor_compo.png)
Z軸スキャンせずにワンショットで最大40mmの高さ範囲を計測
![chip_2d_stack_detail Topography detail chip 2D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_2d_stack_detail.png)
フィールド歪みが非常に少ないバイテレセントリックレンズ採用で、正確な計測が可能
![chip_3d_stack_detail Topography chip 3D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_3d_stack_detail.png)
![chip_2d_stack_detail Topography detail chip 2D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_2d_stack_detail.png)
![chip_3d_stack_detail Topography chip 3D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_3d_stack_detail.png)
フィールド歪みが非常に少ないバイテレセントリックレンズ採用で、正確な計測が可能
![calibration_specimen_3d_falsecolor Topography of the calibration specimen 3D False color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/calibration_specimen_3d_falsecolor.png)
ISO規格
トレーサビリティ
すべてのS wideは、正確でトレーサブルな測定を提供します。ISO 25178 および VDI 2634-2準拠のトレーサブル標準で校正。
![calibration_specimen_3d_profile Profile calibration specimen 3D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/calibration_specimen_3d_profile.png)
![calibration_specimen_3d_falsecolor_compo Topography and profile of the calibration specimen 3D False color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/03/calibration_specimen_3d_falsecolor_compo.png)
ISO規格
トレーサビリティ
すべてのS wideは、正確でトレーサブルな測定を提供します。ISO 25178 および VDI 2634-2準拠のトレーサブル標準で校正。
![additive_manufacturing_3d_cad_comparison Additive manufacturing 3D CAD Comparison](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_cad_comparison.png)
3D-CADモデルからの形状偏差測定
幾何学的差異と公差を測定
![additive_manufacturing_3d_stack additive_manufacturing_3d_stack](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_stack.png)
![additive_manufacturing_3d_cad_comparison Additive manufacturing 3D CAD Comparison](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_cad_comparison.png)
![additive_manufacturing_3d_stack additive_manufacturing_3d_stack](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_stack.png)
3D-CADモデルからの形状偏差測定
幾何学的差異と公差を測定
![traceability_profile_and_topo Traceability](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/07/traceability_profile_and_topo.png)
トレーサビリティ
表面性状測定装置のキャリブレーション
Sensofarのシステムはすべて、高精度な追跡可能な測定データを提供するように生産されています。システムはISO 25178第7部 に従って以下の追跡可能な基準を使用してキャリブレーションされます。Z増幅係数、XY横方向寸法、平坦度エラー、一軸性、同焦点性。