GF Machining SolutionsとSensofar Metrologyが戦略的パートナーシップに合意

GF Machining Solutions（Georg Fischerの一部門）とSensofar Metrology（スペインのバルセロナ近くに拠点を置くSensofar-Tech, SLの一部門）は新たな戦略的パートナーに合意しました。

今後Sensofar Metrologyは、高度なナノテクスチャリングメソッドの開発に使用されるカスタム S line（S neox）表面計測システムをGF Machining Solutionsに供給します。これらのメソッドは、超短パルスレーザー、EDMおよび/またはその他のナノ製造テクノロジーを利用するもので、これにより正確な機能的特性を示す、または特定の美的要件を満たす技術的表面の生産を行います。

Sensofar S lineプラットフォームへの部分的な移行の後、GF Machining Solutionがマイクロマシニングのための超短パルス（超高速）レーザーテクノロジーの適合を行います。新しい計測システムは、第一に自然な表面性状をナノフィーチャレベルまでリバースエンジニアリングすること、そして第二にこうした性状とその他のフィーチャで製造される人工表面の生産プロセス（モールドのマイクロマシニングから成形プロセスで達成される複製の度合いまで）を立案するために必要とされます。

この新しい戦略パートナーシップは、焦点移動法（FV）3D計測システム供給業者との過去および同様の契約に置き換わるものです。FVは十分な表面粗度と表層構造がある状況で有効に利用できる手法です。とは言え、より高い精度の獲得を実現し、現在開発中の高度化した表面テクスチャリングのアプローチを可能にするため、多機能性を高めた計測ツールが必要不可欠です。

SensofarのS neoxは、パートナーシップの中核に位置するシステムプラットフォームであり、相補的な3つの測定テクニック（共焦点法、干渉法、FV）を単一のセンサーヘッドで提供します。これにより、新しいマイクロテクスチャリングとナノテクスチャリングのアプローチをさらに多様なスケールと構造に対して活用する他に類を見ない測定多機能性を導くに至りました。一貫性、再現性、ベンチマーキングのため、測定レポートは、Sensofar計測システムの標準的特長であるISO 25178基準内で定義される3D表面性状パラメータにまとめられます。本契約書と関連するS neoxシステムは、さらにカスタムのハードウェアとソフトウェアの変更を含みます。

最後に、この計測システムの性能をGF Machining SolutionsとSensofarの潜在的なお客様に向けて実証するため、両社は自動車、光学、医療、マイクロマシニング、半導体、その他のさまざまな産業分野における一連の主要なトレードイベントとワークショップで同時展示することに合意しています。この戦略的パートナーシップの結果として販売されるGF認定Sensofarシステムは、Sensofarの販売とサービスチャネルにおける既存のグローバルネットワークを通じて提供およびサポートされます。