Optische Messlösungen für die Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie
Adam M. Platteis ist Absolvent des York College und kam 2018 als Vertriebsleiter in den USA zu Sensofar. Vor seinem Start bei Sensofar Metrology war Platteis 10 Jahre lang bei Carl Zeiss Microscopy tätig, wo er Lösungen für die Halbleiter-, Mikroelektronik- und andere Industriemärkte vertrieb.
In diesem Webinar werden spezielle Qualitätsverbesserungen für PCB-Anwendungen diskutiert. Darüber hinaus sind kritische Abmessungen, Rauheit und Fehleridentifikation ein Thema. Die Referenten Adam Platteis und Alberto Aguerri präsentieren Lösungen in Bezug auf ISO 4287 sowie ISO 25178 und erläutern, wie die proprietäre Software von Sensofar Profile, Rauheitsparameter und Defekte für Oberflächentextur, Höhe und Spuren schnell identifiziert. Der Schwerpunkt liegt auf der Abbildung von Wafern, Pads, Stufenhöhen, Verbindungen und Probenkarten.
Sensofar-Lösungen können im F&E-Labor und für Inline-QA/QC-Umgebungen mit hohem Durchsatz für die automatische Pass/Fail-Berichterstellung verwendet werden. Sensofar bietet eigenständige und anpassbare Lösungen, die Konfokal-, Interferometrie- und Fokusvariationstechnologien in einem einzigen Sensorkopf für die Halbleiter- und Mikroelektronikindustrie kombinieren.
