Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
LÖSUNGEN
Optisches 3D-Messsystem für große Flächen
Advanced Manufacturing
Archäologie und Paläontologie
Unterhaltungselektronik
Medizinische Geräte
Formverfahren
Optik
Uhrenbau
![swide_detail_2022 S wide system detail](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/bfi_thumb/swide_detail_2022-1-qpscduwi4iftl35dhttc5nf96l0con2ylmr6saibww.png)
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für große Flächen
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![pcb_2d_falsecolor Topography PCB 2D False Color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_2d_falsecolor.png)
Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich
![pcb_3d_color Topo](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_3d_color.png)
![pcb_2d_falsecolor Topography PCB 2D False Color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_2d_falsecolor.png)
Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich
![pcb_3d_color Topo](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/pcb_3d_color.png)
![progressive_lenses_2d_falsecolor Topography Progressive lenses 2D false color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/progressive_lenses_2d_falsecolor.png)
One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan
![progressive_lenses_2d_falsecolor_profile Profile progressive lenses 2D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/progressive_lenses_2d_falsecolor_profile.png)
![progressive_lenses_2d_falsecolor_compo progressive_lenses_2d_falsecolor_compo](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/03/progressive_lenses_2d_falsecolor_compo.png)
One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan
![chip_2d_stack_detail Topography detail chip 2D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_2d_stack_detail.png)
Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse
![chip_3d_stack_detail Topography chip 3D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_3d_stack_detail.png)
![chip_2d_stack_detail Topography detail chip 2D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_2d_stack_detail.png)
![chip_3d_stack_detail Topography chip 3D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/chip_3d_stack_detail.png)
Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse
![calibration_specimen_3d_falsecolor Topography of the calibration specimen 3D False color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/calibration_specimen_3d_falsecolor.png)
ISO-NORMEN
Rückführbarkeit
Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.
![calibration_specimen_3d_profile Profile calibration specimen 3D](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/calibration_specimen_3d_profile.png)
![calibration_specimen_3d_falsecolor_compo Topography and profile of the calibration specimen 3D False color](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/03/calibration_specimen_3d_falsecolor_compo.png)
ISO-NORMEN
Rückführbarkeit
Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.
![additive_manufacturing_3d_cad_comparison Additive manufacturing 3D CAD Comparison](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_cad_comparison.png)
Formabweichung von 3D-CAD-Modellen
für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung
![additive_manufacturing_3d_stack additive_manufacturing_3d_stack](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_stack.png)
![additive_manufacturing_3d_cad_comparison Additive manufacturing 3D CAD Comparison](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_cad_comparison.png)
![additive_manufacturing_3d_stack additive_manufacturing_3d_stack](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/02/additive_manufacturing_3d_stack.png)
Formabweichung von 3D-CAD-Modellen
für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung
![traceability_profile_and_topo Traceability](https://www.sensofar.com/wp-content/uploads/2020/07/traceability_profile_and_topo.png)
RÜCKVERFOLGBARKEIT
Kalibrierung von Messgeräten für die Oberflächentextur
Alle unsere Systeme sind so hergestellt, dass sie genaue und nachvollziehbare Messungen liefern. Systeme werden unter Verwendung rückverfolgbarer Standards gemäß den ISO 25178-Richtlinien von Teil 7 kalibriert für: Z-Verstärkungsfaktor, XY-Querabmessungen, Ebenheitsfehler sowie Parzentrizität und Parfokalität.