让新的 Sensofar 系统 S wide 拓宽您的视野
Alberto Aguerri 自 2004 年以来一直在 Sensofar 工作，曾在生产和销售团队中担任不同角色。作为专家，他熟知市面上的所有光学表面形貌测量学知识。他目前通过分销商网络以及在亚洲、德国和美国等主要市场的销售和支持办事处领导全球销售和应用业务。
了解有关 Sensofar 新的卓越 3D 光学轮廓仪的所有信息，它将测量学扩展到更大的视场中，适用于进行表面粗糙度测量。S wide 将数字显微镜的优势集成到高分辨率、快速扫描的测量仪器中。
关键主题
这种新系统提高了常规操作的易用性，单次测量高度可达 40 毫米，且无需 Z 轴扫描
在整个扩展区域实现亚微米高度级的可重复性
集成 5Mpx 摄像头可实现最佳分辨率的色彩采集
与 3D CAD 模型的形式偏差，可有效集成到日常内部流程中
