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网络研讨会和讲座

3D 非接触式表面测量如何改进您的增材制造过程

网络研讨会和讲座
David Páez
销售支持专家,工程物理理学士,纳米科学和纳米技术理学硕士 at Sensofar Metrology | Other articles

David 在加泰罗尼亚理工大学 (UPC) 获得学士学位,并在物理系开始了研究助理的工作。在巴塞罗那大学 (UB) 完成硕士学位后,他加入了 Sensofar,从事光学测量领域。作为销售专家,他传播 Sensofar 的光学测量知识,为我们的客户进行培训,教授他们如何挖掘我们系统的全部潜力。如果您想找他,他很可能就在我们的演示室,测量样品或进行现场演示。

增材制造已迅速成为许多制造领域中可接受的工艺。 使用加法方法可以轻松生产出功能改进的复杂设计,取代传统的减法和成型工艺。 然而,这些增材制造的零件带来了新的计量挑战。

增材制造生产的零件具有独特的表面纹理,具体取决于印刷技术、使用的材料和工艺参数。 各种不同的技术被用于测量这些样本——从传统的接触式触控笔到先进的 X 射线计算机断层扫描。

在本次网络研讨会中,我们将展示特定的非接触式 3D 光学计量技术如何为增材制造零件的形状和纹理表征提供完整的解决方案。 通过案例研究,我们将展示如何测量和分析完工后处理的样品。

关键主题

  增材制造工艺如何从 3D 光学计量中受益?

  增材制造零件表面纹理测量最常用技术的比较

  技术选择

  如何表征增材制造零件的形状和表面纹理

  研发和质量控制的完整解决方案

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