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网络研讨会和讲座

您需要了解的有关刀具加工中的表面测量的所有信息

网络研讨会和讲座
David Páez
销售支持专家,工程物理理学士,纳米科学和纳米技术理学硕士 at Sensofar Metrology | Other articles

David 在加泰罗尼亚理工大学 (UPC) 获得学士学位,并在物理系开始了研究助理的工作。在巴塞罗那大学 (UB) 完成硕士学位后,他加入了 Sensofar,从事光学测量领域。作为销售专家,他传播 Sensofar 的光学测量知识,为我们的客户进行培训,教授他们如何挖掘我们系统的全部潜力。如果您想找他,他很可能就在我们的演示室,测量样品或进行现场演示。

刀具的设计和制造直接影响最终用户行业的生产质量,刀具市场上的测量要求变得越来越严苛。

测量更薄的刀具和更小的切削刃半径的需求也越来越普遍。
我们独特的解决方案 Five Axis 共聚焦光学轮廓仪使我们能够测量直径小至 200μm 的样品和半径仅 150nm 的切削刃。

我们的专家将与您分享他们从对多个刀具样品进行的多次表面测量中获得的所有经验。

准备好了解更多了吗?

关键主题

  测量形状相似的样品的技巧(钻头、螺钉、切削刀具…)

  如何测量以及如何分析?(粗糙度、磨损、形状、CAD
比较等特征…)

  包含真实例子的一般建议,寻求刀具加工表面测量领域日常应用适合的最佳解决方案

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