光学测量技术大师班
Roger 拥有光学表面形貌测量领域的多项专利。\n他还是 ISO 25178 技术委员会成员。\n2001 年成为 Sensofar 的联合创始人。\n自 1997 年至今，Roger 一直在传感器、仪器和系统开发中心 (CD6) 工作，担任光学工程师研究员。Roger 从 2005 年至今一直是 ISO25178 标准 TG WG16 委员会成员，该标准被广泛用于 Sensofar 开发设备的相关领域。他目前任 Sensofar Tech SL 的总裁兼首席技术官。\n
当今市场上的许多系统都采用了光学测量技术，使用户能够获得他们在表面测量作业中所需的测量数据。
运用最广泛的技术包括：条纹投影、共聚焦、干涉测量和多焦面叠加。
在我们最杰出的专家Roger Artigas 博士的指导下，我们将简化这些光学技术，向您提供有关何时以及如何使用它们的指南。
关键主题
表面测量中的主要光学技术的工作原理
比较市面上最常用的技术
测量厚膜和薄膜的区别
每种技术的优点和缺点清单
结合 3D 光学技术的好处
