Sensofar Metrology 推出首个大面积 3D 光学测量系统：S wide^NEW

Sensofar Metrology 非常荣幸地宣布其将发布适用于大面积测量的新一代形貌测量工具。S wide 是高性能非接触式 3D 光学大面积测量系统，专为微尺度测量而设计，具有先进的检查和分析功能。
S wide 是专用解决方案，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm (11.8 x 11.8 in)。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。

最重要的特点包括：

无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度。

整个扩展区域内的亚微米级高度可重复性。

与 3D CAD 模型的形状偏差
（提供几何差异和公差测量）。

具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量。

S wide 适用于以下解决方案：

先进制造业

考古学与古生物学

消费类电子产品

医疗设备

模塑

光学

钟表业

S wide 适用于所有实验室环境，不受限制，且可作为生产区域中的传感器。
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统已根据 ISO 25178 和 VDI2634-2 标准进行了校准和追溯。
S wide 配置 SensoSCAN ，该软件可通过其清晰、直观且用户友好的界面驱动系统，并可与新的 SensoVIEW 软件结合使用，用于进行各种分析任务。SensoPRO 还创建了自动化分析模块，让所有质量控制程序变得更加容易。

如需更多信息，请访问 www.sensofar.com/swide

S wide 系统将在即将举办的展会中进行演示：

让新的 Sensofar 系统 S wide 拓宽您的视野