专为提高速度而设计的新型 S neox 3D 光学轮廓仪

Sensofar Metrology 非常荣幸地宣布其将发布第五代旗舰光学轮廓仪。S neox 是高性能非接触式 3D 光学轮廓显微镜系统，专为亚纳米、纳米和微尺度级测量而设计，具有先进的检查和分析功能。

全新 S neox 在设计、功能、效率和性能方面均优于现有的光学 3D 轮廓分析显微镜。除此之外，它最令人印象深刻的特点是它无与伦比的速度。借助新的智能独特算法，一切都变得更快。数据采集速度为 180 fps。S neox 将标准测量的采集速度较之前提高 5 倍，这使其成为市面上最快的区域测量系统。

S neox 设计在研发和质量控制实验室所需的灵活性、稳定性和耐用性方面进行了改进。我们的优化解决方案具有灵活性和易于使用的界面，适用于质量控制环境，并且可以设置为 24/7 全天候工作。 S neox 测量头采用的 Sensofar 三合一技术方法 – 共聚焦、干涉测量、Ai 多焦面叠加（新）- 极大地提高了系统的多功能性，有助于最大程度地减少数据采集中的不良影响。S neox 是所有实验室环境的理想选择，没有任何限制。最重要的特点包括：

全新主动照明多焦面叠加是一项光学技术，旨在测量较大粗糙表面的形状。通过使用主动照明，即使在光学平滑的表面上也能获得更可靠的聚焦位置，这一点已经获得改进。

全新薄膜测量技术，使用户可以快速、准确、无损地测量光学透明层的厚度，而无需准备样品。该技术可在不到 1 秒的时间内测量 50 nm 至 1.5μm 厚的透明膜。

添加微分干涉 (DIC) ，用于强调在正常观察中本无对比度的非常小的高度特征

高动态范围 (HDR)减轻高反射表面（局部斜率和/或不同材料）上的反射点和漏失点。

S neox 配备了四个具有长使用寿命的 LED 光源和一个 6 位电动换镜旋转盘。测量头中没有活动部件，因此可提供长期稳定性、准确的测量重复性和非常长的使用寿命。与之前的 S neox 一样，新的系统同样可以连接带有五轴高精度电动旋转模块的旋转工作台。

S neox 随附 SensoSCAN 7，该软件可通过其清晰、直观且用户友好的界面驱动系统，并可与新的 SensoVIEW 软件结合使用，用于进行各种分析任务。最受欢迎的表面纹理参数皆是根据 ISO 25178 和 ISO 4278 计算得出。

SensoPRO 还创建了自动化分析模块，让所有质量控制程序变得更加容易。若要进行功能更强大、更灵活的数据分析，则可选择基于 Mountains® 技术的最新表面分析软件 SensoMAP。

有关更多信息，请下载我们的 宣传手册 。

全新 S neox 系统将在即将举办的展会中进行演示：

美国旧金山，西部光电展（2 月 5 日至 7 日，ABCD 大厅南，3404 号展位
中国上海，慕尼黑上海光博会（3 月 20 日至 22 日，W4 大厅，4201 号展位）
德国斯图加特，控制展（5 月 7 日至 10 日，6 号馆，6106 号展位）
美国马萨诸塞州西斯普林菲尔德，Eastec 展会（5 月 14 日至 16 日）