边缘投影系统
自适应算法
S wide测量仪可快速测量,极大限度地缩短测量周期。它能有效覆盖大面积区域,而无需进行 Z 向移动。此外,其可定制的条纹投影模式进一步优化了测量时间,实现高效率的量测。
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S wide测量仪可快速测量,极大限度地缩短测量周期。它能有效覆盖大面积区域,而无需进行 Z 向移动。此外,其可定制的条纹投影模式进一步优化了测量时间,实现高效率的量测。