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新闻

编码搜索焦点扫描(ESFS)— Sensofar 在快速精确 3D 成像领域的新纪元

Metrology, 新闻

Sensofar 欣然宣布一项将重新定义光学测量领域的革命性专利。这项发明是 Sensofar 科学家 Narcís VilarRoger ArtigasGuillem Carles 共同努力的成果,将在即将举行的光学成像大会和之后在旧金山的西部光子学会议上正式介绍。

这一尖端发展,被称为编码搜索焦点扫描(ESFS),为传统的用于非接触式三维物体表面测量的光学技术带来了巨大变化。ESFS 的独特之处在于它能够从显著更小的输入图像数据集重建高度图。这一技术飞跃显著加快了图像采集过程,使得测量快速移动的样品成为可能。

ESFS 可以在超过 100 微米的范围内提供表面高度测量,同时保持亚微米级精度。令人印象深刻的是,它只需要 8 张输入图像即可实现,每秒最多可达到 67 个拓扑图的惊人速度。

这种前所未有的速度和效率,加上高分辨率,使得首次对大型、快速移动系统的表征成为可能。这一突破为各个行业带来了令人兴奋的新前景,有望将光学计量学推进到速度和精度的新纪元。

Paper SPIE 23Inspiring Metrology