完整且快速的 3D 测量解决方案，全新 S neox Five Axis
Sensofar Metrology 自豪地宣布其将发布全新的 New S neox Five Axis 产品。这款新的 3D 光学轮廓仪依旧结合了相同的高精确度旋转模块、高分辨率平移平台以及先进的检查和分析功能，但在设计、功能、性能和速度方面进行了最佳改进。它可以在已定义的位置（角度）进行多次自动化 3D 表面测量，并将这些测量结合，以创建完整的 3D 体积测量 – 是微加工、增材制造、工装和医疗技术应用的理想选择。
全新 S neox Five Axis 拥有智能、独特的算法，让一切都变得更快，其在效率方面优于现有的光学 3D 轮廓分析显微镜。数据采集速度为 180 fps，标准测量采集速度较之前提高 5 倍。
S neox Five Axis 设计在研发和质量控制实验室所需的灵活性、稳定性和耐用性方面进行了改进。我们的优化解决方案具有灵活性和易于使用的界面，适用于质量控制环境中，并且可以设置为 24/7 全天候工作。 S neox Five Axis 测量头采用的 Sensofar 三合一技术方法 – 共聚焦（用于临界尺寸）、干涉测量（用于亚纳米粗糙度）、Ai 多焦面叠加NEW（用于形状和形式）- 极大地提高了系统的多功能性，有助于最大程度地减少数据采集中的不良影响。
最重要的特点包括：
主动照明多焦面叠加是一项光学技术，旨在测量较大粗糙表面的形状。通过使用主动照明，即使在光学平滑的表面上也能获得更可靠的聚焦位置，这一点已经获得改进。
全新薄膜测量技术，使用户可以快速、准确、无损地测量光学透明层的厚度，而无需准备样品。该技术可在不到 1 秒的时间内测量 50 nm 至 1.5μm 厚的透明膜。
高动态范围 (HDR)减轻高反射表面（局部斜率和/或不同材料）上的反射点和漏失点。
新的 S neox Five Axis 系统还集成了几种特殊的采集模式，以补充和利用运动系统功能。“手动模式”可测量具有高精确度定位的单个视场 (Fov)，“网格模式”可以在几个不同（横向）位置捕获单个视场。最后，“3D 模式”是使用“五个多配方”(5MR) 的自动化程序，结合了五轴位置和测量采集功能，可获得 STL 文件格式的 3D 形貌图。许多 3D 软件分析平台都支持 STL 文件格式，例如 Gom、Polyworks、Kotem 和 Geomagic。
因此，新的 S neox Five Axis 系统实际上是一种专用解决方案，可从不同角度对样品进行全面的表面表征，满足不同的应用需求，包括全 3D 采集。
利用由 Sensofar 直观、用户友好的 SensoFIVE 界面控制的采集功能，其配备的进阶分析模块提供了必要的工具，适用于确定 3D CAD 模型的形状偏差、突出测试和磨损偏差（例如，用于工装）、逆向工程应用，以及根据 ISO 25178 标准（形状和粗糙度）测量临界尺寸（角度、半径、轮廓）、表面纹理和体积。
如需更多信息，请访问 S neox Five Axis。
全新 S neox Five Axis 系统将在即将举办的展会中进行演示：
