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提升您的质量流程生产力:S wide

Metrology, 产品, 新闻

我们自豪地推出增强版的 S wide 光学轮廓仪。该卓越系统专为超高速大面积测量而设计,现在提供了新的功能,以提升您的表征过程。

自 2020 年首次推出以来,S wide 不断演进,结合了我们积累的专业知识所带来的重大创新。本次升级的亮点是 SensoVIEWSensoPRO 最新软件版本的无缝集成。这些软件解决方案与 S wide 一起,为各种表征过程提供了完全自动化的解决方案。

S wide 的体验亮点包括:

  • 完美兼容大型设备:了解 S wide 如何帮助您测量超大组件或大体积样品。关键在于其宽视野(FOV)、超快速数据采集、灵活的设置和内置的自动化工具。
  • 最新技术进步:发现新功能,如新的测量算法和数字变焦功能。
  • 增强的测量能力:探索 S wide 可以执行的各种测量,包括粗糙度、平整度、关键尺寸、GD&T 和 CAD 比较。
  • 更广泛的应用范围:了解在最常见应用中的实例,如 PCB、模具、电池、显示器、汽车零部件和医疗植入物。

我们在新的宣传册中简化了所有这些信息,以便于您对 S wide 的能力有一个清晰的了解,并更新了网站内容。请查看这里!

下载 S wide 宣传册

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Inspiring Metrology: Lei Zheng